서울과학기술대학교 장비종합정보망

장비정보

품명

주사전자현미경(SEM)

식별번호

22147849

품목명(스펙)

주사전자현미경, 새론테크놀로지, AIS1800C

운영부서

공과대학

사용위치

하이테크관122호 재료실험실

취득일자

2015-07-08

영문명

Scanning electron microscopes,SEM

검색키워드

Scanning electron microscopes, 주사전자현미경,SEM

분류

장비설명

배율 10배~50000배 SE & BSE Image Analyzer & Particle Counter 장착옵션 EDS BSE CCD etc.

장비구성
및
성능

최대배율 50000, 진공도 1.333×10^(-3)~10^(-4)Pa, 냉각방식 공냉식

사용방법

문의

이용료

0원

유형

장비상태

정상

담당자

연락처